Patterns, correlates, and reduction of homework copying

نویسندگان
چکیده

برای دانلود رایگان متن کامل این مقاله و بیش از 32 میلیون مقاله دیگر ابتدا ثبت نام کنید

اگر عضو سایت هستید لطفا وارد حساب کاربری خود شوید

منابع مشابه

Patterns, correlates, and reduction of homework copying

Submissions to an online homework tutor were analyzed to determine whether they were copied. The fraction of copied submissions increased rapidly over the semester, as each weekly deadline approached and for problems later in each assignment. The majority of students, who copied less than 10% of their problems, worked steadily over the three days prior to the deadline, whereas repetitive copier...

متن کامل

patterns and variations in native and non-native interlanguage pragmatic rating: effects of rater training, intercultural proficiency, and self-assessment

although there are studies on pragmatic assessment, to date, literature has been almost silent about native and non-native english raters’ criteria for the assessment of efl learners’ pragmatic performance. focusing on this topic, this study pursued four purposes. the first one was to find criteria for rating the speech acts of apology and refusal in l2 by native and non-native english teachers...

15 صفحه اول

synthesis of 3-aryl-2h-benzo[b]-1,4-oxazines in [omim]bf4 and reduction of organic compounds in methylimidazolium formate

در این پروژه ترکیبات 3-آریل-2h-بنزو[b]-4،1-اکسازین ها از مواد اولیه تجاری مشتقات دو آمینو فنول و ?-هالو کتون های آروماتیک در مایع یونی 1-اکتیل-3-متیل ایمیدازولیوم تترا فلورو بورات([omim]bf4) سنتز شده است. این واکنش توسط باز پتاسیم کربنات محلول از طریق o-آلکیلاسیون و سپس یک واکنش آمیداسیون درون مولکولی خود بخود در مدت زمان کوتاه انجام می شود. ترکیبات 4،1-بنزوکسازین به این روش با بهره خوب تا آلی ...

15 صفحه اول

Test Power Reduction by Simultaneous Don’t Care Filling and Ordering of Test Patterns Considering Pattern Dependency

Estimating and minimizing the maximum power dissipation during testing is an important task in VLSI circuit realization since the power value affects the reliability of the circuits. Therefore during testing a methodology should be adopted to minimize power consumption. Test patterns generated with –D 1 option of ATALANTA contains don’t care bits (x bits). By suitable filling of don’t cares can...

متن کامل

ذخیره در منابع من


  با ذخیره ی این منبع در منابع من، دسترسی به آن را برای استفاده های بعدی آسان تر کنید

ژورنال

عنوان ژورنال: Physical Review Special Topics - Physics Education Research

سال: 2010

ISSN: 1554-9178

DOI: 10.1103/physrevstper.6.010104